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多向检测电子部件
影像系统能检测电子部件上的缺陷和端子的位移。
传统问题
由于单色视觉传感器无法区分端子和模具上的缺陷,所以会发生错误要精确检测端子的峰值边缘也比较困难。
全新技术
色阶处理突出了缺陷和背景之间的对比度,减少了错误。从而大大提高了检测的数量。结合使用艾特独一无二边缘检测算法,以及能够自动扫描一个设定的检测区域,从多个位置的边缘数据获得最大或最小边缘尺寸的边缘趋势工具就可以精确测定端子的情况。
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传统问题
由于单色视觉传感器无法区分端子和模具上的缺陷,所以会发生错误要精确检测端子的峰值边缘也比较困难。
全新技术
色阶处理突出了缺陷和背景之间的对比度,减少了错误。从而大大提高了检测的数量。结合使用艾特独一无二边缘检测算法,以及能够自动扫描一个设定的检测区域,从多个位置的边缘数据获得最大或最小边缘尺寸的边缘趋势工具就可以精确测定端子的情况。